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技術(shù)文章

LQY離子遷移數(shù)測定裝置性能穩(wěn)定,操作簡便

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 LQY離子遷移數(shù)測定裝置簡介:
    用希托夫法測定CuSO4水溶解中Cu2+的遷移數(shù)是物理、化學(xué)中的一門重要實(shí)驗(yàn),通過實(shí)驗(yàn)可以進(jìn)一步了解遷移數(shù)的含義,希托夫法測定遷移數(shù)的原理和方法,以及明確測定離子遷移數(shù)時(shí)與哪些因素有關(guān)。
    LQY離子遷移數(shù)測定裝置為實(shí)驗(yàn)提供了精良的硬件條件,該LQY離子遷移數(shù)測定裝置性能穩(wěn)定,操作簡便,尤其適合教學(xué)實(shí)驗(yàn)。
    LQY離子遷移數(shù)測定裝置是評價(jià)電子產(chǎn)品或元件的絕緣可靠性的一種測試方法,將樣品置于高溫高濕度的環(huán)境中,并在相鄰的兩個(gè)絕緣網(wǎng)絡(luò)之間施加一定的直流電壓(偏置電壓),在長時(shí)間的測試條件下,檢測兩個(gè)網(wǎng)絡(luò)之間是否有絕緣失效。實(shí)踐證明,將PCB放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中,并在線路板上焊接電纜線,施加偏置電壓,然后每隔一段時(shí)間,將PCB從環(huán)境試驗(yàn)箱中取出,進(jìn)行絕緣電阻測試,這種間斷式的測試方法,會漏過很多實(shí)際發(fā)生的離子遷移。一方面因?yàn)閷CB從環(huán)境試驗(yàn)箱中取出,PCB會變得干燥,從而導(dǎo)致絕緣電阻的上升,另一方面,當(dāng)PCB在高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中承受偏置電壓時(shí),離子遷移可能隨時(shí)發(fā)生。
    有效的PCB離子遷移測試,需要將PCB放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中,并在線路板上焊接電纜線,引出至環(huán)境試驗(yàn)箱外的有關(guān)測試設(shè)備上,以在線路板上施加促進(jìn)離子遷移發(fā)生的偏置電壓和進(jìn)行絕緣電阻測試,同時(shí)能實(shí)時(shí)檢測 PCB上的泄漏電流。

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